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通過基于單元的 P2P/CD驗(yàn)證評(píng)估 ESD 穩(wěn)健性
[摘要]

靜電放電 (ESD) 是集成電路 (IC) 設(shè)計(jì)中最老生常談的可靠性問題之一。當(dāng)兩個(gè)帶電物體之間突然出現(xiàn)意外電流時(shí)，就會(huì)發(fā)生 ESD 事件。在 IC 中，ESD 通常由電氣短路或介電質(zhì)擊穿引起。ESD 事件總是會(huì)對(duì)電路造成物理損害，要么導(dǎo)致器件立即失效，要么導(dǎo)致電路出現(xiàn)不太明顯的減損，從而降低器件的總體性能和可靠性。
資源類型：pdf
資源大?。?/span>722.96KB
所屬分類：白皮書
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