對(duì)于PCB設(shè)計(jì)工程師和小型團(tuán)隊(duì)而言,解決SI(信號(hào)完整性)和EMI(電磁干擾)問(wèn)題是一項(xiàng)每天都要面對(duì)的挑戰(zhàn)。通過(guò)使用設(shè)計(jì)規(guī)則檢查 (DRC),避免輻射測(cè)試失敗或信號(hào)完整性相關(guān)故障等最終產(chǎn)品問(wèn)題。本白皮書(shū)回顧了 SI/EMI 挑戰(zhàn)的常見(jiàn)原因以及如何輕松應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。