通過自動插入過孔減少IR 和 EM 問題
[摘要]

IR 壓降和 EM 問題會大幅減損先進工藝節(jié)點的性能和可靠性。添加過孔是最有效的校正手段,但傳統(tǒng)的自定義腳本不僅困難、耗時,而且無法保證設計即正確的過孔。Calibre YieldEnhancer PowerVia 實用工具使用制造要求自動插入無任何 DRC/LVS 錯誤的過孔。結果顯示,EM/IR 結果得到顯著改善,包括電流密度違規(guī)大幅減少。

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所屬分類:白皮書
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