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DDR電接口檢驗(yàn)和內(nèi)存系統(tǒng)調(diào)試

2015/11/18
20
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本部分視頻系統(tǒng)講解了根據(jù)最新JEDEC規(guī)范對(duì)基于DDR的內(nèi)存設(shè)計(jì)執(zhí)行電接口檢驗(yàn)。


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泰克設(shè)計(jì)和制造能夠幫助您測(cè)試和測(cè)量各種解決方案,從而突破復(fù)雜性的層層壁壘,加快您的全局創(chuàng)新步伐。 我們攜手共進(jìn),一定能夠幫助各級(jí)工程師更方便、更快速、更準(zhǔn)確地創(chuàng)造和實(shí)現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步。 泰克推出的各種解決方案在過(guò)去這 70 年間,為許多人類重大進(jìn)步提供了強(qiáng)有力的支持。

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