本應(yīng)用說(shuō)明描述了FCCU注入故障源。此外,對(duì)于每種情況,它描述了如何驗(yàn)證錯(cuò)誤反應(yīng)路徑的完整性以及注入故障的推薦方法。
本文中提到的器件是SPC58xNx/SPC58xE/SPC58xG(40 nm-ASIL D功能)。
然而,大多數(shù)概念也適用于屬于SPC5 32位汽車(chē)MCU的40 nm和55 nm系列的其他設(shè)備。
在閱讀本文檔之前,讀者應(yīng)該對(duì)FCCU的使用有一個(gè)清晰的了解。
有關(guān)此模塊的更多詳細(xì)信息,請(qǐng)參閱SPC58xEx/SPC58xNx/xGx微控制器參考手冊(cè)中的“故障收集和控制單元(FCCU)”一章。
另請(qǐng)參閱SPC58xEx/SPC58xNx/xGx勘誤表。