俄歇電子能譜和x射線光電子能譜的區(qū)別 俄歇電子能譜的表征特點(diǎn)

俄歇電子能譜和x射線光電子能譜都是研究原子和分子內(nèi)部運(yùn)動(dòng)的手段。二者主要的區(qū)別在于激發(fā)離子化產(chǎn)生載流子的方法和所測量的物理量。

1.俄歇電子能譜的表征特點(diǎn)

俄歇電子能譜是研究原子和分子內(nèi)部運(yùn)動(dòng)的重要手段之一，主要用于分析材料中元素的電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵的性質(zhì)等。它通過測量高能電子與材料相互作用后散射出電子的速度分布，來獲取樣品中內(nèi)殼層電子的結(jié)合能和勢壘以及材料中元素的價(jià)態(tài)等信息。

2.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜的區(qū)別

X射線光電子能譜是利用高能X射線轟擊樣品，使得內(nèi)殼層電子被激發(fā)到離開原子或分子，測量出電子在離開原子或分子時(shí)所具有的動(dòng)能。而俄歇電子能譜是將一個(gè)高能電子束入射到樣品上，這些電子與樣品原子發(fā)生相互作用后可以產(chǎn)生被稱為俄歇電子的載流子。而這些俄歇電子攜帶著和內(nèi)殼層電子相關(guān)的信息，所以可以用來研究樣品中的內(nèi)部電子結(jié)構(gòu)。

因此，二者的主要區(qū)別在于激發(fā)內(nèi)殼層電子的方式不同，且測量的物理量也不同。X射線光電子能譜主要測量掉出電子的動(dòng)能，而俄歇電子能譜則測量俄歇電子的能量分布。