對(duì)于電子設(shè)備制造企業(yè),買(mǎi)到翻新器件是一件令人惱火、糾結(jié)、無(wú)奈的事情。后果難料卻又束手無(wú)策,防不勝防。經(jīng)過(guò)本人研究、與器件特性資深研究人士交流、經(jīng)器件翻新業(yè)內(nèi)資深人士言傳身教等等手段,總結(jié)四法傳授鑒別翻新器件。
1. 光學(xué)檢測(cè)
工具是放大鏡,可以選用 10-20 倍光學(xué)放大鏡,或用高倍電子顯微鏡(光學(xué)放大*電子放大)。
將器件的背面,有焊錫的一面,也是與 PCB 板相接的一面,放置于放大鏡下,觀察其表面是否有有機(jī)焊劑揮發(fā)物,現(xiàn)象就是臟乎乎的,跟吃飯時(shí)濺到衣服上的油點(diǎn)類(lèi)似,總之就是沒(méi)那么平整干凈。而且多個(gè)器件的臟污圖象對(duì)比,臟點(diǎn)的位置不一致。
2. 測(cè)管腳電容
工具為 LCR 電橋,很便宜的。
兩塊互不連通的金屬,之間填充有絕緣介質(zhì),就構(gòu)成了一個(gè)電容。我們?cè)?a class="article-link" target="_blank" href="/tag/%E7%94%B5%E8%B7%AF/">電路中常說(shuō)的分布電容就是這個(gè)形成機(jī)理。
現(xiàn)在的器件里,半導(dǎo)體的特性,都會(huì)產(chǎn)生分布電容,但是隨著時(shí)間的推移、隨著器件日久年深的工作,兩金屬間的絕緣特性會(huì)因?yàn)殡妷旱某掷m(xù)加壓或環(huán)境影響而導(dǎo)致變差,從而影響到分布電容的大小。據(jù)此容值判定器件的狀態(tài)很有參考價(jià)值。
一個(gè)批次里,抽取多個(gè)器件,隨意隨機(jī)抽取 2 個(gè)管腳,測(cè)試其之間的電容特性,將抽取的多個(gè)器件相同二管腳的電容測(cè)量結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,不同器件之間±1nF 的偏差波動(dòng)可以理解,差得多了就要小心了。如果一個(gè)批次里測(cè)出的結(jié)果很離散,都在±7~8nF 甚至更多之間離散分布,那就肯定是不對(duì)勁了。
3. 做分布曲線(xiàn)
工具為萬(wàn)用表或電橋。
方法是從一批供貨器件里,隨機(jī)抽取幾十個(gè),越多越好啦,一般最少不要少于 20 個(gè),然后用萬(wàn)用表隨機(jī)測(cè)試任二管腳之間的阻抗,或者用電橋測(cè)任二管腳之間的電容,總之選個(gè)好測(cè)的參數(shù),將多個(gè)器件的該參數(shù)做成分布圖(如下圖 1)。分布特性如曲線(xiàn)①特征的為新器件,如曲線(xiàn)②特征的則重點(diǎn)懷疑為翻新器件。此為定性測(cè)量。一般新器件的參數(shù)一致性會(huì)非常好。如果分布曲線(xiàn)里出現(xiàn)兩個(gè)如曲線(xiàn)①特征的波峰,則可能是兩個(gè)批次的器件,兩個(gè)批次的時(shí)間差距較大。
圖 1
4.IV 曲線(xiàn)
工具:IV 曲線(xiàn)測(cè)試儀,電路板及元器件故障檢測(cè)分析儀(T40-II)
方法是從一批供貨器件里,隨機(jī)抽取一些,數(shù)量幾個(gè)到幾十個(gè)均可,如果有確定的正品新器件做參照物的話(huà),抽樣數(shù)量也可以很少(抽測(cè)樣品 1-2 個(gè)都是可以的)。將懷疑器件的 IV 曲線(xiàn)與正品樣品的曲線(xiàn)做對(duì)比,重合的就是新器件,不重合的則可能是舊器件翻新來(lái)的。
如果沒(méi)有對(duì)比正品樣品,就拿多個(gè)器件來(lái)做曲線(xiàn)對(duì)比,同一型號(hào)器件的同一管腳的曲線(xiàn)重合度很高,則說(shuō)明批次一致性很好,則是正品新器件,反之,則是翻新器件。
以上方法皆來(lái)自于江湖,且皆為定性測(cè)試,很難定量,但其參考價(jià)值和實(shí)用性不必懷疑。別問(wèn)我為什么說(shuō)這些,到底有什么企圖心,我叫雷鋒,職業(yè)是醫(yī)生,我的患者對(duì)象是故障器件和電路板。
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