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芯片測(cè)試

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芯片測(cè)試，設(shè)計(jì)初期系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試。 SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝，因此，對(duì)Soc器件的測(cè)試需要采用全新的方法。由于每個(gè)功能元件都有其自身的測(cè)試要求，設(shè)計(jì)工程師必須在設(shè)計(jì)初期就做出測(cè)試規(guī)劃。

芯片測(cè)試，設(shè)計(jì)初期系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試。 SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝，因此，對(duì)Soc器件的測(cè)試需要采用全新的方法。由于每個(gè)功能元件都有其自身的測(cè)試要求，設(shè)計(jì)工程師必須在設(shè)計(jì)初期就做出測(cè)試規(guī)劃。收起

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