在剛剛舉辦的美國國際電力電子應用展覽會(APEC)上,泰克和 EA共同展示最新技術和創(chuàng)新成果。泰克和 EA 的專家團隊同參加本次展覽會,并就測量解決方案和電力電子技術的最新成果進行深入探討。
泰克 5 系列 MSO 示波器 - PE Systems 雙脈沖測試系統(tǒng)
要對功率器件中使用的寬禁帶半導體進行動態(tài)響應和開關損耗評估,雙脈沖測試 (DPT) 極其重要。泰克與 PE-Systems 合作推出了一個自動化系統(tǒng),利用泰克 5 系列 MSO 示波器,采用模塊化和可變溫度測量方法對各種電壓范圍進行測量。
泰克借助符合 JEDEC 和 IEC 標準的自動測量解決方案簡化了設備驗證。該解決方案采用一系列探頭和獲得專利的時序偏差校準算法,可準確捕獲開關參數(shù)。與泰克函數(shù)發(fā)生器和 Keithley 功率器件相結合,則構成了一個寬禁帶器件全面測試端到端解決方案。
泰克 5 系列薄型示波器電機驅(qū)動測試解決方案
IMDA 解決方案為汽車工程師進行三相逆變器和電機驅(qū)動分析提供必要的測量數(shù)據(jù),有助于提高測試效率,減小器件尺寸、重量和成本。該解決方案包括靜態(tài)相量、DQ0 和諧波分析,以及趨勢圖動態(tài)分析,用于評估電機的響應特性,例如啟動/停止曲線。
功率半導體 CV/IV 特性測試
CV/IV 特性測試對于評估功率半導體器件,尤其是用于功率轉換的開關設備,至關重要。Keithley 4200A 用于 CV 特性測量,而 2651A Source Meter 用于直流 IV 特性測量,可確定功率半導體在開啟狀態(tài)下的最大輸出功率。在測試過程中,使用指定的 8010 測試夾具可確保測試的安全性和準確性,對于所有 Keithley 源測量單元 (SMU) 產(chǎn)品,還可借助 ACS 軟件簡化測試過程。
此外,EA 對以下產(chǎn)品進行演示:
在展商演講環(huán)節(jié),John Tucker 與 Chris Loberg 共同深入探討了高功率電子元件的安全處理與測試問題。他們的演講聚焦于尖端的碳化硅和氮化鎵技術,介紹了確保工作場所安全的高效探測技術。與會者對 IMDA 和雙脈沖表現(xiàn)出濃厚的興趣,同時對隔離探頭和 4 系列 MSO 也給予了高度關注。
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