愛德萬測試：讓存儲器及射頻產(chǎn)品測試實現(xiàn)更高成本效益

2016 年中國消耗的半導(dǎo)體芯片占全球的三分之一，預(yù)計到 2025 年這個數(shù)字會增加到 50%以上，因此國家提出集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展戰(zhàn)略。隨著國家的大力支持，國內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)已經(jīng)逐步從跟隨轉(zhuǎn)向自主研發(fā)，初步形成了從設(shè)計、晶圓加工、封測以及應(yīng)用的全套產(chǎn)業(yè)鏈，未來會出現(xiàn)走在世界前列的半導(dǎo)體公司，甚至?xí)O(shè)定產(chǎn)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，如 5G、物聯(lián)網(wǎng)。
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隨著物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)品種類和數(shù)量的增加以及 5G 通信技術(shù)的快速發(fā)展，對應(yīng)的產(chǎn)品測試需求也不斷增加，為了幫助客戶實現(xiàn)快速測試，愛德萬測試推出兩款系統(tǒng)測試新產(chǎn)品：T5800 系列存儲器測試方案和配合 V93000 測試平臺的 Wave Scale 測試板卡，它們可以幫助客戶實現(xiàn)更高的成本效益，目前在中高端市場做到了全面覆蓋。

圖 1：愛德萬測試(中國)管理有限公司 VP 夏克金博士

T5830： 讓 Flash 器件測試成本效益最大化
隨著移動智能設(shè)備的普及，人人都變成了數(shù)據(jù)源，在線數(shù)據(jù)呈現(xiàn)爆發(fā)式增長，數(shù)據(jù)存儲需求越來越大，預(yù)計到 2018 年 Flash 存儲器測試系統(tǒng)的全球市場將達(dá)到 1 億 4800 萬美元。如何經(jīng)濟高效地測試非易失性存儲器件？這就需要一個多功能且靈活的測試平臺來確保用戶的投資回報率，并降低設(shè)備投資風(fēng)險。愛德萬測試的 T5830 測試系統(tǒng)同時具備支持前道晶圓測試以及后道封裝測試的能力，非常適合測試采用標(biāo)準(zhǔn)串行外圍接口協(xié)議(SPI)的 NOR 和 NAND Flash 器件，以及那些管腳數(shù)較少的 Flash 器件諸如智能卡、SIM、EEPROMs、內(nèi)嵌式 Flash 等產(chǎn)品。

圖 2：T5830 存儲器測試系統(tǒng)

愛德萬測試(中國)管理有限公司 VP 夏克金博士介紹，“T5830 測試模塊內(nèi)置的可編程電源通道（PPS）的可擴展架構(gòu)，為不同管腳數(shù)量的芯片提供了靈活經(jīng)濟的硬件資源分配組合，還沿用了愛德萬測試創(chuàng)新的 Tester-per-Site 的硬件設(shè)計理念，使每個 Test site 可以獨立地進(jìn)行測試程序的操作減少了并行測試的時間，降低了綜合測試成本。T5830 測試系統(tǒng)的測試頻率為 400MHz，數(shù)據(jù)傳輸速率為 800Mbps。假設(shè)當(dāng)一個 DUT 配置 4 個數(shù)字測試通道時，T5830 的并行測試能力最大可以增加到 2304 個 DUT 同測?！?/p>

Wave Scale 測試板卡：讓射頻半導(dǎo)體產(chǎn)品測試更加高效
傳統(tǒng)的射頻測試解決方案一直沿用多芯片同測的方式，比如四或八芯片同測，但是一次僅在芯片內(nèi)對一種射頻標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試，測試過程復(fù)雜，工作效率低下。怎樣進(jìn)行多路測試，盡量簡化測試流程？ 愛德萬測試在 V93000 平臺上推出了 Wave Scale 系列測試板卡，可以提高射頻及混合信號集成電路測試時的并行性及產(chǎn)能。

夏克金博士指出，“Wave Scale RF 及相應(yīng)的 Wave Scale MX 測試板卡能在一個射頻芯片內(nèi)同時對多種標(biāo)準(zhǔn)或者多個路徑進(jìn)行測試，通過高效的芯片內(nèi)并行及高同測效率的多芯片并行，能顯著地降低這些復(fù)雜射頻器件的測試成本?！?/p>

圖 3：Wave Scale MX 測試板卡

圖 4：大量的并行測試可以顯著降低測試時間

Wave Scale RF 板卡在每塊板上擁有四個獨立的射頻子系統(tǒng)并帶有獨立的信號激勵及測量能力，能夠在同一時間對 LTE、GPS、藍(lán) WLAN 器件進(jìn)行測試。每個子系統(tǒng)帶有八個單獨的端口，能夠同時將射頻信號扇出到最多四個獨立的測量儀器。這能使每個射頻子系統(tǒng)能夠支持多達(dá)八個芯片運行 RX （接收器) 和 TX （發(fā)射器)的測試 ，每塊板卡支持多達(dá) 32 個芯片同時測試。Wave Scale RF 板卡的 32 個射頻端口都能支持最高至 6GHz 的頻率。憑借 200MHz 帶寬及包括提供內(nèi)部回路，嵌入式校準(zhǔn)等在內(nèi)的其他各種特征，其能很好地支持包括未來 5G 半導(dǎo)體器件在內(nèi)的一系列廣泛的應(yīng)用。

加強中國區(qū)研發(fā)實力，更好服務(wù)客戶
近兩年全球半導(dǎo)體市場呈現(xiàn)下滑趨勢，唯有中國市場仍然保持二位數(shù)增長，因此各大國際半導(dǎo)體廠商都加強了在中國的布局，以前將中國部門定位為服務(wù)職能的公司如今也將研發(fā)進(jìn)行了轉(zhuǎn)移。愛德萬測試市場銷售總經(jīng)理陸樂介紹，“我們在繼德國、日本、美國之后，又在中國上海設(shè)置了研發(fā)中心，負(fù)責(zé)部分測試軟件開發(fā)。我們對中國團隊的定位不只是做服務(wù)，目前設(shè)計部分也在向中國轉(zhuǎn)移，因為中國市場非常有前景，我們要盡可能滿足中國客戶的需求。”

“我們每年都會拿出營收的 20%用于研發(fā)，因此每年都會向市場推出新的產(chǎn)品?！标憳费a充。

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