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航天級耐輻射產(chǎn)品系列為設(shè)計人員提供用于新興近地軌道商業(yè)應(yīng)用的全新解決方案

2022/04/13
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新興的新太空領(lǐng)域更令人興奮的一件事是發(fā)射大量近地軌道(LEO)衛(wèi)星,這些衛(wèi)星體積較小且經(jīng)濟(jì)可行,同時還具有抗輻射性和可靠性,增強(qiáng)了世界范圍內(nèi)的通信和連接。在以前的衛(wèi)星領(lǐng)域,大多數(shù)任務(wù)都在距地球高達(dá)22,236英里的地球同步軌道上執(zhí)行,并且預(yù)計持續(xù)時間超過10年,與之不同的是,LEO衛(wèi)星的軌道距離地球更近,不超過1,300英里。由于這些衛(wèi)星相對容易更換,因此其工作壽命通常不到七年。

在符合嚴(yán)格預(yù)算并保持競爭力的情況下,LEO衛(wèi)星電子設(shè)計所面臨的主要挑戰(zhàn)是:

  • 使用更小、集成度更高的元件來減小電路板尺寸
  • 為短周期設(shè)計找到交貨周期短的器件
  • 使用能承受太空惡劣條件的電子元件

全新的耐輻射產(chǎn)品系列(航天EP)
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我們的全新耐輻射產(chǎn)品系列中的IC可滿足LEO衛(wèi)星需求

除了包含250多款合格制造商列表V級(QMLV)密閉空間級器件的現(xiàn)有產(chǎn)品系列之外,TI最近還推出了全新的耐輻射產(chǎn)品系列(航天EP)。航天EP產(chǎn)品系列包含專為工作壽命較短的LEO衛(wèi)星設(shè)計的塑料器件。

對于剛進(jìn)入航天領(lǐng)域的設(shè)計人員而言,航天領(lǐng)域具有陸地產(chǎn)品無法解決的特定挑戰(zhàn),其中包括:

  • 輻射性能
  • 商用現(xiàn)成(COTS)器件中典型的控制工藝和材料變化
  • 衛(wèi)星繞地球運行時的熱循環(huán)
  • 未密封塑料封裝的釋氣

TI的航天EP認(rèn)證流程攻克了上述挑戰(zhàn),因此無需再使用高風(fēng)險升級篩選方法(之前偶爾使用)。升級篩選是在數(shù)據(jù)表規(guī)格之外的條件下對器件進(jìn)行電氣或環(huán)境測試的做法。如果在不完全了解器件的“配方”及其測試向量的情況下進(jìn)行升級篩選,則可能會導(dǎo)致現(xiàn)場故障和誤以為衛(wèi)星會在任務(wù)執(zhí)行期間正常運行。

耐輻射器件如何降低風(fēng)險
利用TI的經(jīng)認(rèn)證航天產(chǎn)品,設(shè)計人員和器件工程師能夠設(shè)計和驗證其電路板,而無需考慮衛(wèi)星在LEO航天環(huán)境中的具體注意事項。航天EP產(chǎn)品無需考慮的部分注意事項包括:

  • 受控基線流程。對于每款航天EP器件,TI都在一個制造工廠、組裝場所和測試場所制造完成,以便減少各工廠在材料組合、輻射耐受性和電氣規(guī)格方面的差異。
  • 輻射批次驗收測試。航天EP器件經(jīng)過測試,確保每個晶圓批次的電離輻射總劑量(TID)為20krad(Si),從而消除了任何批次間的輻射差異風(fēng)險。這些器件在認(rèn)證期間具有高達(dá)30krad(Si)的TID,可實現(xiàn)額外的輻射性能。(對于需要更高級別TID性能的項目,TI以前的QMLV航天產(chǎn)品的額定值通常為100krad(Si)或更高。)
  • 金線。航天EP器件僅使用金鍵合線,從而消除了銅在更嚴(yán)格的容差要求下可能發(fā)生的鍵合完整性和可靠性問題。
  • 無錫須風(fēng)險。由于太空中的惡劣條件,即使使用保形涂層,也要考慮錫須問題。為避免這種風(fēng)險,航天EP產(chǎn)品不使用錫含量高的端子。相反,涂層采用的是鎳-鈀-金或63%錫/37%鉛。
  • 工作溫度范圍。航天環(huán)境通常要求-55°C至125°C的溫度容差。將航天EP器件限定在該溫度范圍內(nèi)之后,就無需為工作溫度范圍進(jìn)行升級篩選,否則會使TI的保修失效并可能損壞飛行中使用的器件。
  • 惡劣環(huán)境資質(zhì)認(rèn)證。航天EP產(chǎn)品接受特定于航天環(huán)境的補(bǔ)充認(rèn)證流程,如更嚴(yán)格的高加速應(yīng)力測試、對每個器件和增強(qiáng)材料組合的溫度循環(huán)測試,以便滿足NASA牽頭的美國材料與試驗協(xié)會E-495釋氣規(guī)格要求。

加快產(chǎn)品推出時間表
憑借TI航天EP器件的質(zhì)量和可靠性,設(shè)計人員能夠更快地開發(fā)和驗證新設(shè)計。在TI.com上的器件產(chǎn)品文件夾中,我們提供了針對LEO要求優(yōu)化器件的所有輻射數(shù)據(jù)以及釋氣數(shù)據(jù)和可靠性報告。使用我們的詳細(xì)報告可以節(jié)省大量成本,因為在LEO衛(wèi)星應(yīng)用中使用COTS產(chǎn)品時,會在輻射測試、升級篩選和易生不良品分析方面投入大量費用。

我們的報告包括:

  • 針對TID的輻射報告,包括30krad(Si)的特性數(shù)據(jù)和高達(dá)20krad(Si)的耐輻射加固保障數(shù)據(jù)
  • 針對單粒子效應(yīng)的輻射報告,43MeVcm2/mg的單粒子鎖定數(shù)據(jù)以及電源管理產(chǎn)品的附加單粒子瞬態(tài)特性。
  • 釋氣和可靠性報告,提供有關(guān)產(chǎn)品流程、可靠性數(shù)據(jù)、可追溯性和釋氣測試的信息。該報告中的信息有助于加快電路板認(rèn)證并減少對外部認(rèn)證工作的需求,從而更大限度地降低選擇新產(chǎn)品時所面臨的風(fēng)險,并使您確信器件從一開始就可以正常工作。

表1列出了我們產(chǎn)品系列中的六款航天EP器件,主要功能類別的更多器件將計劃推出。

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表1:已發(fā)布的航天EP器件

對于需要獲得比航天EP產(chǎn)品系列更高級別的可靠性或耐輻射保障認(rèn)證的項目,TI將繼續(xù)投資并提供采用氣密封裝的傳統(tǒng)航天產(chǎn)品系列。

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