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    • 1.JTAG接口原理圖
    • 2.JTAG接口主要作用
    • 3.JTAG接口在調(diào)試中的應(yīng)用
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jtag接口

2021/03/22
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JTAG (Joint Test Action Group) 接口是一種用于測試和調(diào)試電路板上的數(shù)字電路的標(biāo)準(zhǔn)化接口。該接口由 IEEE 標(biāo)準(zhǔn) 1149.1 定義,也被稱為 JTAG 、Boundary-Scan 或 ASIC 互連測試。

1.JTAG接口原理圖

JTAG 接口主要由四種信號線組成:

  • TMS(Test Mode Select):測試模式選擇線
  • TCK(Test Clock):測試時鐘線
  • TDI(Test Data Input):測試數(shù)據(jù)輸入線
  • TDO(Test Data Output):測試數(shù)據(jù)輸出線

這四個線形成了一種環(huán)狀的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu),可以在 IC 上形成一個完整的鏈,從而實(shí)現(xiàn)對芯片內(nèi)部各個模塊的控制與訪問。

2.JTAG接口主要作用

JTAG 接口可以用于測試電路板上數(shù)字電路的連接性,包括 PCB 整體連接情況以及 IC 內(nèi)部邏輯關(guān)系的正確性。此外,JTAG 接口還可實(shí)現(xiàn)程序下載、調(diào)試和性能分析等功能。對于一些高端芯片,需要 JTAG 接口進(jìn)行故障排除與修復(fù)。

3.JTAG接口在調(diào)試中的應(yīng)用

JTAG 接口在調(diào)試中的應(yīng)用包括以下幾個方面:

  • 單步執(zhí)行:通過 JTAG 接口可以對芯片進(jìn)行單步操作,方便逐條程序指令地調(diào)試。
  • 寄存器觀測:可以讀取芯片內(nèi)部各個寄存器的狀態(tài),幫助調(diào)試人員了解芯片運(yùn)行的實(shí)時情況。
  • 變量查看:可以查看程序中各個變量的值,幫助調(diào)試人員分析程序錯誤。

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