ESD和瞬態(tài)保護使用SP720申請注釋

2023/12/28

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在集成電路中對瞬態(tài)保護的需求是由追求以更低的成本提高可靠性所驅動的。改進的主要努力通常指向盡可能低的過電壓相關的發(fā)生率
壓力。雖然電氣過度壓力(EOS)始終是故障的潛在原因;正確處理、接地和關注環(huán)境原因的紀律可以將EOS故障原因減少到非常低的水平。然而，敵對環(huán)境的性質并不總是可以預測的。靜電放電(ESD)在某種程度上總是存在的，最好的ESD接口保護可能仍然不夠客戶端。隨著固態(tài)技術的進步，與ESD相關的集成電路故障的發(fā)生越來越少見。ESD和EOS故障都有持續(xù)的趨勢，部分原因是由于當今VLSI電路的較小幾何形狀。

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