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原子力顯微鏡

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原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。

原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互作用，作用力將使得微懸臂發(fā)生形變或運(yùn)動狀態(tài)發(fā)生變化。掃描樣品時，利用傳感器檢測這些變化，就可獲得作用力分布信息，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息。收起

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  • 原子力顯微鏡
    原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）是一種使用非接觸式探針技術(shù)進(jìn)行高分辨率表面形貌和物理性質(zhì)測量的顯微鏡。它能夠?qū)悠愤M(jìn)行原子級別的掃描和成像，具有成像精度高、分辨率高、能夠在空氣或液體環(huán)境下工作等優(yōu)點(diǎn)。原子力顯微鏡廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域中，如材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物醫(yī)學(xué)等。
  • 原子力顯微鏡有哪些工作模式 各有什么優(yōu)缺點(diǎn)
    原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）是一種高分辨率的顯微鏡，用于觀察和測量物質(zhì)表面的形貌和力學(xué)性質(zhì)。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，原子力顯微鏡利用納米尖端探針掃描樣品表面，通過感知和測量納米級別的相互作用力來重建樣品的形貌。本文將重點(diǎn)介紹原子力顯微鏡的工作模式以及各自的優(yōu)缺點(diǎn)。

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