SoC測(cè)試

先進(jìn)的數(shù)字處理器IC要求通過(guò)單獨(dú)的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)測(cè)試，以達(dá)到質(zhì)保要求。這帶來(lái)了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開(kāi)關(guān)如何助力一次性通過(guò)單插入測(cè)試，以幫助進(jìn)行DC參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字測(cè)試，從而降低測(cè)試成本，簡(jiǎn)化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測(cè)試流程。 圖1.操作員將負(fù)載板安裝到測(cè)試儀上，以測(cè)試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn) 半導(dǎo)體市場(chǎng)在不斷發(fā)展，

近日，在上海舉辦的媒體見(jiàn)面會(huì)上，愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試（中國(guó)）管理有限公司業(yè)務(wù)戰(zhàn)略發(fā)展部高級(jí)總監(jiān)陸亞奇向與非網(wǎng)記者介紹，目前愛(ài)德萬(wàn)的業(yè)務(wù)涵蓋機(jī)電一體化系統(tǒng)、半導(dǎo)體和器件測(cè)試系統(tǒng)以及一些新興業(yè)務(wù)領(lǐng)域，這些新興業(yè)務(wù)包括鈦赫茲波測(cè)試和MEMS傳感器測(cè)試領(lǐng)域等。在交流中，陸亞奇格外強(qiáng)調(diào)中國(guó)市場(chǎng)對(duì)愛(ài)德萬(wàn)公司整體業(yè)務(wù)發(fā)展的重要性