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【測試為先 向新而行】 泰克創(chuàng)新實驗室開放平臺,正式啟動!

04/26 11:24
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泰克創(chuàng)新論壇想必大家都已經(jīng)耳熟能詳了,自開辦起至今已持續(xù)了10余年,每年我們都希望能帶來不一樣的驚喜和新亮點。去年我們和國內(nèi)外大咖一起探索過火星(NASA工程師的分享),聽過AI終身學習課,也聊過自動駕駛,看過很多汽車、半導體及高速串行通信等應用領(lǐng)域的峰會講座。今年年初,我們上線了兩場以“跳進創(chuàng)新的另一面”為專題的直播:“如何進行晶圓級可靠性測試”與“高速串行鏈路分析軟件SDLA的使用入門和避坑指南”,旨在能讓更多工程師小伙伴更早參與進來,學習更多測試的基礎(chǔ)知識和實操技術(shù),為未來的創(chuàng)新打下基礎(chǔ)!

由此,泰克創(chuàng)新論壇衍生系列第二彈 —— 創(chuàng)新實驗室開放季:【測試為先 向新而行】,正式來襲!該系列以深耕新質(zhì)生產(chǎn)力為核心,深度聚焦多個行業(yè)應用,走進客戶以創(chuàng)新賦能,全面深入地探究各位在日常工作中的測試痛點,推動相關(guān)領(lǐng)域的創(chuàng)新與發(fā)展。

實驗開放日向來是工程師的最愛,因為我們在前往客戶公司做了數(shù)十個客戶服務(wù)日后發(fā)現(xiàn),很多工程師最想要看的內(nèi)容就是測試原理和實例演示,接下來的三個月參與開放季:

1) 面對面探討常見測試問題與解決方案

2) 在專家?guī)ьI(lǐng)進行現(xiàn)場DUT實測

3) 手把手診斷測試及設(shè)計問題

上海:泰克高速創(chuàng)新開放實驗室

先進的算力芯片服務(wù)器廠家在過去的幾年里紛紛部署PCIe5,而PCIe6的初代產(chǎn)品預計也將在今年內(nèi)會陸續(xù)開始研發(fā)。

5月10日—AI & 數(shù)據(jù)中心專題(上海),我們邀請到泰克、安立、Viavi的技術(shù)專家,對PCIe5和PCIe6技術(shù)的測試挑戰(zhàn)和解決方案進行全方位的干貨分享,包括Tx,Rx和Protocol,還會有真實產(chǎn)品進行實測演示。作為彩蛋,我們還會介紹和演示MSO6高精度示波器測量算力系統(tǒng)的電源紋波。

我們將更加聚焦電源完整性設(shè)計和三代半導體測試的干貨分享,帶你了解儀器公司如何幫助電源工程師提升測試效率,提高測試精度,排查電源故障。參會者還可以跟隨泰克專家的引導,使用泰克示波器,親自動手測量真實待測物的電源質(zhì)量。

北京:泰克先進半導體開放實驗室

更為重磅的是,泰克先進半導體開放實驗室,將以更全面的方案整裝待發(fā)!

全新實驗室的研究方向涵蓋了半導體材料、器件設(shè)計與制造、封裝與測試等領(lǐng)域。主要關(guān)注的研究課題包括新型半導體材料的開發(fā)、高效能源器件的設(shè)計、先進封裝技術(shù),致力于加速中國第三代半導體行業(yè)創(chuàng)新發(fā)展、工藝優(yōu)化、良率提升,讓工程師的工作更高效、更有信心。

深圳:矽電-泰克晶圓級探針測試測量聯(lián)合實驗室

第三代半導體芯片功率器件研發(fā)、生產(chǎn)中的測試測量難點和挑戰(zhàn),如高壓放電、大電流測試、高溫性能測試、超薄翹曲晶圓轉(zhuǎn)運等難題。

矽電-泰克晶圓級探針測試測量聯(lián)合實驗室旨在強化國產(chǎn)化合物半導體功率器件測試驗證的能力,進一步探究和優(yōu)化基于高精度和高吞吐率下的一過性解決方案。聯(lián)合實驗室?guī)椭鷺I(yè)界高效解決這些測試難點,在晶圓級測試節(jié)點提供WAT、CP、WLR、KGD等測試,在模塊級測試節(jié)點提供動靜態(tài)參數(shù)測試、封測和可靠性測試,覆蓋了整個化合物半導體功率器件全制程。

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泰克

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泰克設(shè)計和制造能夠幫助您測試和測量各種解決方案,從而突破復雜性的層層壁壘,加快您的全局創(chuàng)新步伐。 我們攜手共進,一定能夠幫助各級工程師更方便、更快速、更準確地創(chuàng)造和實現(xiàn)技術(shù)進步。 泰克推出的各種解決方案在過去這 70 年間,為許多人類重大進步提供了強有力的支持。

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