閂鎖(Lanch-up)效應(yīng),一般我們也可以稱之為擎住效應(yīng),是由于 IGBT 超安全工作區(qū)域而導(dǎo)致的電流不可控現(xiàn)象,當(dāng)然,閂鎖效應(yīng)更多的是決定于 IGBT 芯片本身的構(gòu)造。實(shí)際工作中我們可能很少聽(tīng)到一種失效率,閂鎖失效,今天我們就來(lái)聊一聊什么是閂鎖效應(yīng)~
關(guān)于 IGBT 的構(gòu)造我們這里不再贅述,集 MOS 和 BJT 于一身的"男人",一般我們認(rèn)為 IGBT 的理想等效電路如下圖所示
故在 G-E 之間外加正向電壓使 MOS 管導(dǎo)通時(shí),PNP 晶體管的基極 - 集電極之間就連上了低電阻,從而使 PNP 晶體管處于導(dǎo)通狀態(tài)。此后,使 G-E 之間的電壓為零或者負(fù)壓時(shí),首先 MOS 管處于斷路狀態(tài),PNP 晶體管的基極電流被切斷,從而使 IGBT 關(guān)斷。所以,IGBT 和 MOS 一樣,都是電壓控制型器件。
那閂鎖效應(yīng)的產(chǎn)生是在哪里呢?
其實(shí) IGBT 的實(shí)際等效電路與上面我們講到的理想等效電路略有不同,還需要考慮其內(nèi)部寄生的內(nèi)容,如下圖
從上圖我們可以看處,實(shí)際等效電路是由可控硅和 MOS 構(gòu)成的。內(nèi)部存在一個(gè)寄生的可控硅,在 NPN 晶體管的基極和發(fā)射極之間并有一個(gè)體區(qū)擴(kuò)展電阻 Rs,P 型體內(nèi)的橫向空穴電流會(huì)在 Rs 上產(chǎn)生一定的電壓降,對(duì)于 NPN 基極來(lái)說(shuō),相當(dāng)于一個(gè)正向偏置電壓。在規(guī)定的集電極電流分為內(nèi),這個(gè)正偏電壓不會(huì)很大,對(duì)于 NPN 晶體管起不了什么作用。當(dāng)集電極電流增大到一定程度時(shí),該正向電壓則會(huì)大到足以使 NPN 晶體管開(kāi)通,進(jìn)而使得 NPN 和 PNP 晶體管處于飽和狀態(tài)。此時(shí),寄生晶閘管導(dǎo)通,門極則會(huì)失去其原本的控制作用,形成自鎖現(xiàn)象,這就是我們所說(shuō)的閂鎖效應(yīng),也就是擎住效應(yīng),準(zhǔn)確的應(yīng)該說(shuō)是靜態(tài)擎住效應(yīng)。IGBT 發(fā)生擎住效應(yīng)后,集電極的電流增大,產(chǎn)生過(guò)高的功耗,從而導(dǎo)致器件失效。
動(dòng)態(tài)擎住效應(yīng)主要是在器件高速關(guān)斷時(shí)電流下降太快(di/dt 大),dv/dt 很大,引起的較大位移電流,流過(guò) Rs,產(chǎn)生足以使 NPN 晶體管導(dǎo)通的正向偏置電壓,造成寄生晶閘管的自鎖。
在 IGBT 中,在有過(guò)電流流過(guò)時(shí),我們通過(guò)控制門極來(lái)阻斷過(guò)電流,從而進(jìn)行保護(hù)。但是,一旦可控硅觸發(fā),由于可控硅不會(huì)由于門極的阻斷信號(hào)等而進(jìn)行自動(dòng)消弧,因此此時(shí)的 IGBT 不可能關(guān)斷,最終導(dǎo)致 IGBT 因過(guò)電流而損壞。
那么我們可以怎么樣來(lái)防止或者說(shuō)是減小擎住效應(yīng)呢?一般有以下幾種技術(shù):
①采用難以產(chǎn)生擎住效應(yīng)的構(gòu)造,也就是減小體區(qū)擴(kuò)展電阻 Rs;
②通過(guò)優(yōu)化 n 緩沖層的厚度和摻雜來(lái)控制 PNP 晶體管的 hFE;
③通過(guò)導(dǎo)入降低壽命的手段來(lái)控制 PNP 晶體管的 hFE;
所以,關(guān)于 IGBT 的實(shí)際應(yīng)用,我們是不允許其超安全工作區(qū)域的,針對(duì)這個(gè),我們采用了很多保護(hù)手段。所以,每個(gè)元器件,有的時(shí)候我們考慮的只是我們需要觀察的,但是其背后的故事則會(huì)告訴我們,為什么我們應(yīng)該這樣去考量。
從原材料到成品 IGBT,這個(gè)過(guò)程經(jīng)歷了太多環(huán)節(jié),每個(gè)環(huán)節(jié)都很重要,這才有了滿足我們需求的各類元器件。
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