快充技術(shù)的發(fā)展不斷突破著功率極限。隨著功率增大,芯片的溫升效應(yīng)隨之顯著,熱損耗加劇,影響系統(tǒng)整體的能量轉(zhuǎn)化效率,過熱的芯片還可能帶來安全性和使用壽命等方面的隱患。作為目前主流快充系統(tǒng)的核心器件,反激變換器的效率與整機溫升和散熱成本密不可分,如何進(jìn)一步提升它的效率始終是電源設(shè)計工程師最關(guān)心的問題之一。 傳統(tǒng)軟開關(guān)拓?fù)洌航柚鈬娐穼崿F(xiàn) 開關(guān)損耗是反激變換器的主要損耗來源之一,由開通和關(guān)斷過程中的電流