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什么是FD-SOI,為什么歐洲執(zhí)著于此?

2022/08/17
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FD-SOI(fully depleted silicon-on-insulator)解決了芯片制造商的漏電問(wèn)題,但該技術(shù)落后于更傳統(tǒng)的FinFET工藝。現(xiàn)在,歐盟正寄希望于FD-SOI的新發(fā)展,將其作為通向先進(jìn)的下一代IC的門(mén)票。

作為重建歐盟成為先進(jìn)IC來(lái)源更大努力的一部分,前不久,CEA-Leti、GlobalFoundries、Soitec和STMicroelectronics宣布了一項(xiàng)聯(lián)合計(jì)劃,將在四年內(nèi)開(kāi)始生產(chǎn)新的10nm FD-SOI工藝。該工藝將針對(duì)超低功耗應(yīng)用、超高射頻應(yīng)用(如支持5G移動(dòng)網(wǎng)絡(luò)的應(yīng)用),以及將受益于將低功耗或射頻電路集成到先進(jìn)數(shù)字SoC上的應(yīng)用。

那么,F(xiàn)D-SOI到底是什么,為什么歐洲現(xiàn)在覺(jué)得它很重要呢?為什么這個(gè)公告會(huì)引起業(yè)界的懷疑,以及這種工藝將面臨怎樣的競(jìng)爭(zhēng)環(huán)境?這些問(wèn)題肯定是歐盟工業(yè)規(guī)劃者們所關(guān)心的,也應(yīng)該是可能最終使用這種工藝芯片的系統(tǒng)架構(gòu)師們所關(guān)心的。

縮寫(xiě)術(shù)語(yǔ)中的歷史

FD-SOI是fully depleted silicon-on-insulator的縮寫(xiě),擴(kuò)展后的名稱(chēng)可能也不能完全解釋其完整的含義。讓我們從SOI開(kāi)始,這里面有個(gè)故事。

IC工程的一個(gè)持續(xù)挑戰(zhàn)是晶體管位于硅晶圓的頂層,電流會(huì)從晶體管的通道漏出,進(jìn)入底層晶圓基底。如果不加以控制,這種泄漏將導(dǎo)致電路運(yùn)行緩慢,并嚴(yán)重增加功耗。工藝工程師們已經(jīng)解決了這個(gè)問(wèn)題,他們?cè)诿總€(gè)晶體管下面建立了一個(gè)雜質(zhì)摻雜硅的pocket,稱(chēng)為well,其設(shè)計(jì)目的是阻止大部分泄漏電流。直到2010年代初,這種well隔離技術(shù)已經(jīng)足以解決漏電問(wèn)題。

但解決這個(gè)問(wèn)題還有第二種方法。1995年,IBM的一個(gè)團(tuán)隊(duì)采用了一種方法,該方法不是在晶圓本身的表面制造晶體管,而是在絕緣氧化物層上的一層薄薄的硅片上制造晶體管,因此幾乎完全將晶體管與基底絕緣,稱(chēng)之為SOI(silicon-on-insulator)。這種方法幾乎消除了從通道到底層襯底的電流泄漏,并幫助解決了許多其他問(wèn)題。IBM、AMD和其他主要芯片供應(yīng)商使用SOI生產(chǎn)高性能CPU等大量產(chǎn)品。當(dāng)然,隨著晶體管越來(lái)越小,由于各種原因,漏電問(wèn)題變得越來(lái)越嚴(yán)重。

兩種解決方案隨著晶體管體積的縮小,另一種泄漏成為一個(gè)問(wèn)題。這種情況來(lái)自于柵極(晶體管上的控制終端),柵極越來(lái)越不能完全關(guān)閉通過(guò)通道的電流。這種漏電情況不僅導(dǎo)致更多的功耗浪費(fèi),而且還可能使晶體管永遠(yuǎn)無(wú)法完全關(guān)閉,使得邏輯1和邏輯0之間的區(qū)別很難被檢測(cè)出來(lái)。

研究平面工藝的工程師和研究SOI的工程師用兩種截然不同的方式來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題。包括TSMC和Intel在內(nèi)的主流公司都采用了在晶圓表面物理制造晶體管的方法,實(shí)際上是將晶體管的窄邊翻轉(zhuǎn),使其像鰭一樣位于晶圓表面,這一方法將與隔離well接觸的通道面積最小化,大大減少了泄漏和相關(guān)影響。更重要的是,它允許工程師在三面用柵極材料包圍細(xì)長(zhǎng)的鰭狀通道,就像一個(gè)鞍套在非常薄的馬身上,極大地提高了柵極截?cái)嗤ǖ离娏鞯哪芰Α4蠹s在2013年,所謂的FinFET從學(xué)術(shù)理論進(jìn)入量產(chǎn)。

但是面對(duì)柵極越來(lái)越無(wú)法關(guān)閉通道電流,SOI工藝工程師相信他們有一個(gè)比FinFET的機(jī)械和工藝復(fù)雜性更優(yōu)雅的解決方案。由于他們的溝道是夾在柵極和底層氧化物之間的薄硅帶,他們可以簡(jiǎn)單地使溝道更薄,只在柵極結(jié)構(gòu)和底層氧化物之間留下一層極薄的溝道材料薄膜。在這個(gè)有限的空間里,柵極幾乎可以把所有的松散電子都掃出有源溝道區(qū)域,耗盡它的電荷載子,從而使電流幾乎不可能流動(dòng)。換句話說(shuō),柵極可以完全耗盡通道中載子的供應(yīng):因此,稱(chēng)為FD-SOI(fully depleted SOI)。

一個(gè)不平等的競(jìng)爭(zhēng)

FD-SOI在2012年左右推出時(shí),似乎對(duì)傳統(tǒng)平面CMOS提出了嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。當(dāng)年ST推出的28nm FD-SOI工藝在性能和功率方面的優(yōu)勢(shì)可與當(dāng)代的22nm CMOS相媲美,似乎也滿足了未來(lái)FinFET工藝的承諾。但在2013年底,TSMC開(kāi)始了16nm FinFET工藝的早期生產(chǎn),關(guān)閉了FD-SOI對(duì)大規(guī)模移動(dòng)應(yīng)用處理器、主流CPU和GPU市場(chǎng)的大門(mén)。

發(fā)生了什么事?在技術(shù)問(wèn)題上,F(xiàn)D-SOI面臨著一些不利因素。它的專(zhuān)用晶圓過(guò)去和現(xiàn)在都比傳統(tǒng)的硅晶圓貴。而且因?yàn)镕D-SOI晶體管與FinFET相比在電氣上有很大不同,芯片設(shè)計(jì)師必須為FD-SOI使用不同的仿真模型、電路庫(kù),在某些情況下,他們寧愿使用FinFET的設(shè)計(jì)工具。這反過(guò)來(lái)又限制了FD-SOI對(duì)所有重要的芯片IP開(kāi)發(fā)者的吸引力,這些開(kāi)發(fā)者為SoC開(kāi)發(fā)者設(shè)計(jì)存儲(chǔ)、邏輯庫(kù)和復(fù)雜的功能。

SOI在過(guò)去已經(jīng)克服了這些問(wèn)題,部分原因是得到了IBM的支持,IBM當(dāng)時(shí)是一個(gè)主要的IDM和研發(fā)領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者。但這個(gè)行業(yè)已經(jīng)發(fā)生了變化。2013年,技術(shù)、制造和客戶支持方面的大鱷是TSMC,而巨型IDM是Intel。兩家公司的路線圖都致力于FinFET。為了贏得設(shè)計(jì)上的勝利,F(xiàn)D-SOI不僅要展示出超越成本和風(fēng)險(xiǎn)的技術(shù)優(yōu)勢(shì),還要展示出可以延伸至未來(lái)幾代的路線圖。FD-SOI供應(yīng)商適時(shí)地提供了這樣一份路線圖。

但客戶們不得不問(wèn),F(xiàn)D-SOI的領(lǐng)軍企業(yè)(主要是GlobalFoundries和ST)能否從該工藝中獲得足夠的收入,以繼續(xù)TSMC、Intel和Samsung在邁向2nm工藝路線圖時(shí)所做的巨額投資。答案很快就來(lái)了,而且是赤裸裸的。GlobalFoundries在2015年底宣布在最初的28nm工藝基礎(chǔ)上推出22nm工藝,但在2018年仍在進(jìn)行產(chǎn)能爬坡。計(jì)劃中的14nm制程(跳過(guò)整個(gè)制程節(jié)點(diǎn))被取消。

截至2018年,TSMC已有了長(zhǎng)達(dá)5年的FinFET生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn),7nm制程已全面投產(chǎn)。贏得先進(jìn)SoC和處理器業(yè)務(wù)的領(lǐng)先優(yōu)勢(shì)太大了,難以克服。FD-SOI繼續(xù)生產(chǎn),但在超高頻射頻和超低功耗組件領(lǐng)域確立了自己的地位,而在這些應(yīng)用中,先進(jìn)的FinFET出現(xiàn)了特殊的設(shè)計(jì)問(wèn)題。

與此同時(shí),GlobalFoundries的CEO Tom Caulfield在4月的FD-SOI公告中指出,該計(jì)劃是“解決在汽車(chē)、IoT和智能移動(dòng)設(shè)備中需要低功耗、網(wǎng)聯(lián)和安全性的芯片的快速增長(zhǎng)”。

這次有什么不同?

所有這些歷史可能會(huì)讓人們對(duì)新的FD-SOI公告產(chǎn)生審慎的懷疑,尤其是它不僅聲稱(chēng)針對(duì)當(dāng)前的應(yīng)用,而且還聲稱(chēng)針對(duì)主流的SoC和處理器。在沒(méi)有20nm和14nm生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)的情況下,開(kāi)發(fā)任何10nm工藝都面臨著巨大的挑戰(zhàn)。其中最重要的是需要引入EUV光刻技術(shù),這帶來(lái)了一系列全新的技術(shù)問(wèn)題和巨大的成本。更復(fù)雜的是,該工藝是在一種全新的基板上開(kāi)發(fā)的,與TSMC、Intel和Samsung建立的經(jīng)驗(yàn)完全不同。加上歐盟項(xiàng)目的四年時(shí)間框架,更多的問(wèn)題出現(xiàn)了。例如,這段時(shí)間是否足夠進(jìn)入先進(jìn)晶圓加工設(shè)備的訂單隊(duì)列,特別是目前積壓著大量訂單的EUV設(shè)備。

如果這些問(wèn)題能夠得到解決,那么就存在競(jìng)爭(zhēng)問(wèn)題。四年后,當(dāng)GlobalFoundries和ST計(jì)劃開(kāi)始生產(chǎn)他們的10nm FD-SOI時(shí),TSMC的路線圖要求盡早生產(chǎn)其2nm GAA工藝,這是一種超越FinFET的進(jìn)化,也是將晶體管通道與晶圓完全隔離。當(dāng)一個(gè)10nm制程的挑戰(zhàn)者面對(duì)一個(gè)2nm制程的在位者時(shí),最可能的結(jié)果似乎是FD-SOI將努力保住它的小眾應(yīng)用,更不用說(shuō)進(jìn)入移動(dòng)和數(shù)據(jù)中心市場(chǎng)了。

FD-SOI的支持者清楚地知道他們面臨的挑戰(zhàn),他們信心滿滿地向前邁進(jìn),指出FD-SOI能夠?qū)?shù)字功能與多種不容易擴(kuò)展的技術(shù)集成在一起,如模擬、射頻和功率組件。最后,投資者將決定FD-SOI的發(fā)展方向,而客戶將決定是否采用。讓我們拭目以待。

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